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硅片外观缺陷检测

作者:yjun 来源:原创 日期:2019-12-2 9:29:18 人气:109

企业在硅片生产过程中,为了保证硅片质量,对硅片外观缺陷检测十分必要,常见的硅片外观缺陷检测包含硅片四脚是否缺角,硅片划痕、硅片杂质等检测。而苏州汇光科技专做光学仪器研发,销售十几年,做过多种光学视觉检测方案,硅片外观缺陷检测案例就是其一。

前几天,苏州汇光科技业务就做了一个硅片外观缺陷检测案例,听业务员描述客户是一家厦门的上市公司,专做化合物半导体材料外延片的研发、生产和销售,此次我司业务员受邀为客户定制属于他们公司的硅片外观缺陷检测系统。我司业务员在熟知客户检测需求并通过案例分析后,为客户推荐了专用于硅片缺陷分析用的显微镜是金相显微镜,并配有专用的硅片分析软件,下面小编简单和大家说一下苏州汇光科技为客户定制的外观缺陷分析系统的主要特点。

1、在生产线上,支持多路硅片同步检测。

2、硅片外观缺陷分析金相显微镜配有专用分析软件,分析数据迅速,准确。

3、整套硅片缺陷分析系统布局清晰,容易掌握。

……

以下是客户硅片外观缺陷检测的显微镜拍照图

以上就是苏州汇光科技的硅片外观缺陷检测系统的主要特点,除此以外,它还具有强大的图片分析处理、图片存储等功能,详情大家可咨询苏州汇光科技,我司相关业务将详细为您服务。

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