硅片是半导体芯片制造的基本元器件，为提高芯片质量，硅片缺陷检测必不可少。汇光科技有专用硅片检测显微镜（如下图），我们一起来了解一下。

硅片缺陷检测主要是表面检测，这是我司根据客户需求定制仪器，两边镜头同时观察，成像数据可实时展示在显示器上，汇光科技供应的硅片检测显微镜主要有以下功能。

1、硅片厚度测量。硅片检测显微镜有2个镜头，卧式镜头可测量硅片厚度。当然您若需要测量硅片均匀性还需要专用检测设备。  

2、硅片表面杂质检测，硅片检测显微镜放大倍数可达200倍，可清晰观察产品硅片表面问题

3、硅片是否崩边，缺角。通过旋转硅片检测显微镜的载物台，我们可轻松观察硅片边缘部分缺陷。

随着电子产品尺寸不断缩小，半导体检测设备也越来越多，目前，我司供应的半导体检测设备除了硅片检测显微镜，还包括半导体金相显微镜mx系列，晶圆搬送机，晶圆切割3D形貌检测机，晶圆厚度形貌测量仪等半导体检测设备，感兴趣的朋友可来我司试样选购哦。