红外显微镜在半导体硅片检测应用
作者:hgo 来源:原创 日期:2023-4-25 14:55:39 人气:137
红外显微镜是一种可以穿过产品表面观察产品内部的光学显微镜,有人称之为透视眼,下面请和小编一起看看红外显微镜在半导体硅片检测应用
●客户硅片,需要观察芯片内部的mark标记重合误差,具体用途小编就不在此啰嗦了,想必半导体行业的都懂。
●我们选这款近红外显微镜,物镜倍数有5X,10X,20X,50X,100X可选,可清晰观察芯片隐裂,失效分析,
●近红外显微镜拍照图
想看到芯片内部情况,用普通显微镜是看不到的,因此需选用近红外显微镜,操作和普通显微镜差不多,有需要的朋友可先寄样品或者直接来我们公司试样,期待光临。